유해물질 분석·도금두께 측정장비 전문기업인 아이에스피(대표 박정권)는 그동안 수입장비에만 의존했던 XRF(엑스선 형광분석을 이용한 비파괴 태양전지 분석시스템) 장비의 국산화에 성공했다.
이번에 전시한 XRF장비(모델명 iEDX-100A : 유해물질 분석기, iEDX-150T : 도금두께 측정기, iEDX-200AT : 유해물질분석·도금두께측정기)는 CIGS 박막 태양전지의 효율에 영향을 좌우하는 레이어별 두께 측정과 CIGS 정량 분석을 위한 제품이다. 또한 비파괴 분석을 통한 시료 전처리 최소화가 가능하고 유럽 수출에 반드시 필요한 수은·납·크롬 등 유해물질을 동시에 검사할 수 있다.
2004년 설립된 아이에스피는 전북 전주에 본사를 두고 있다. (최우혁 전무(왼쪽)와 김동석 기술영업 부장(오른쪽)이 제품 앞에서 포즈를 취했다.)
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